G08000 - SEMI G80 - 自動試験装置の総合的デジタルタイミング精度を分析するための試験方法

NOTICE: This translation is a REFERENCE COPY ONLY. If differences should exist between the English version and a translation in any other language, the English version is the official and authoritative version. 免責事項： このSEMIスタンダードは，投票により作成された英語版が正式なものであり，日本語版は日本の利用者各位の便宜のために作成したものです。万が一英語と日本語とに差異がある場合には英語版記載内容が優先されます｡ SEMIスタンダード日本語翻訳版をご利用にあたっての注釈を本文の末尾に記載しております（「すべきである」「しなければならない」について等）。 注意：「Current」のステータスを維持するための条件が現時点で満たされていないため、このスタンダードまたは安全ガイドラインは「Inactive」ステータスとなっています。「Inactive」のスタンダードまたは安全ガイドラインはSEMIから入手可能であり、引き続き有効です。 この手順は，それによって，任意のロジック集積回路（IC）ATEシステムのACタイミング精度の仕様を構成するパラメータに関して評価できる標準のプロセスを定義する。 この手順は，ATE比較の簡略化，仕様のあいまいさの抑制，ユーザ受け入れ手順の簡略化，ATE性能監視の簡略化，およびATEサプライヤへの共通確認基準の提供に適用される。 この手順の目的は，デジタル機能テストが可能なすべての半導体自動試験装置（ATE）のタイミング精度仕様を分析することである。本文書の定義に関する節で定義されているように，分析の範囲には，総合的タイミング精度，および総合的タイミング精度の主要な構成要素が含まれる。 Referenced SEMI Standards (purchase separately) SEMI G79 –– Specification for Overall Digital Timing Accuracy